Το σύστημα αναλυτικού ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου Σάρωσης – SEM τύπου JEOL JSM IT510 (LaB6)-SEM, καλύπτει ειδικευμένες εκπαιδευτικές και ερευνητικές ανάγκες της Σχολής Μηχανικών Μεταλλείων Μεταλλουργών και περιλαμβάνει:
- Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (SEM, Scanning Electron Microscopy) με δυνατότητα ονομαστικής μεγέθυνσης από 10 μέχρι 300.000 φορές, για μορφολογική παρατήρηση γεωλογικών, μεταλλουργικών, πολυμερών κλπ δειγμάτων και λήψη εικόνων μεγάλης ευκρίνειας δευτερογενών (Secondary Electron Images) και πισωσκεδαζομένων (Backscattered Electron Images) ηλεκτρονίων
- Σύστημα για στοιχειακή μικροανάλυση με φασματόμετρο ακτίνων Χ διασπαρμένης ενέργειας (EDS, Energy Dispersive System), για ποιοτική και ποσοτική μικροανάλυση και χαρτογράφηση κατανομής στοιχείων (element mapping)
Ο Κανονισμός Λειτουργίας του Ηλ. Μικροσκοπίου Σάρωσης JEOL JSM IT510 (LaB6)-SEM, θεσπίζει τους όρους και τις συνθήκες πρόσβασης μελών ΔΕΠ και σπουδαστών της Σχολής με σκοπό τη εύρυθμη και ασφαλή χρήση του οργάνου προς υποστήριξη των εκπαιδευτικών και ερευνητικών σκοπών της Σχολής.
Χώρος
0.9, ισόγειο, Σχολή Μεταλλειολόγων – Μεταλλουργών Μηχανικών, (πρώην χώρος βιβλιοθήκης)
Ανθρώπινο Δυναμικό
| Επιστημονικός Υπεύθυνος (ΕΥ): | Καθ. Μ. Περράκη |
| Αναπληρωτής Επιστημονικός Υπεύθυνος (ΑΕΥ): | Αν. Καθ. Π. Τσακιρίδης |
| Ειδικά Εκπαιδευμένο Επιστημονικό Προσωπικό (ΕΕΕΠ): | Δρ. Σ. Δελλιγιάννης |
Χρεώσεις για πρόσβαση στο Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (SEM) JEOL JSM IT510 (LaB6)
- (όπως φαίνονται στον κανονισμό Λειτουργίας οργάνου)
Περισσότερες Πληροφορίες στον ΕΥ του Κέντρου Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας, Καθηγητή Γ. Φούρλαρη, email: mmgf@mail.ntua.gr
Αίτηση Πρόσβασης
Για να αποκτήσετε πρόσβαση στο αναλυτικό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο JEOL JSM IT510 (LaB6) – SEM της Σχολής θα πρέπει να συμπληρώσετε την παρακάτω ηλεκτρονική φόρμα. Εναλλακτικά μπορείτε να κατεβάσετε την αίτηση σε μορφή Microsoft Word και αφότου την συμπληρώσετε να την αποστείλετε με email στη διεύθυνση: sem-jsm@metal.ntua.gr